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在透射電鏡中實(shí)時(shí)表征材料在加熱或加電條件下原子尺度結(jié)構(gòu)及成分變化對于理解材料的熱學(xué)、電學(xué)性能以及微觀結(jié)構(gòu)演化具有至關(guān)重要的意義。透射電鏡雙傾光熱原位系統(tǒng)通過MEMS芯片和光纖引入的光源在原位樣品臺(tái)內(nèi)構(gòu)建熱、光復(fù)合多場自動(dòng)控制及反饋測量系統(tǒng)，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、光場變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價(jià)態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。透射電鏡雙傾光熱...

透射電子顯微鏡(TEM)是使用較為廣泛的電子顯微鏡之一，和掃描電子顯微技術(shù)共同組成了電子顯微學(xué)的“兩大支柱”。TEM的測試原理是利用透過樣品的電子進(jìn)行成像和結(jié)構(gòu)分析，由于電子的穿透能力較弱，樣品的厚度、導(dǎo)電性、磁性和分散性等特征對測試結(jié)果的好壞起到直接的影響。因此，相比于掃描電鏡樣品的制備，透射電鏡的制樣更加復(fù)雜和精細(xì)，對于不同的材料應(yīng)當(dāng)根據(jù)其特性并采用合適的制樣方法。TEM測試中，為了獲取高質(zhì)量的樣品圖像，制樣很關(guān)鍵。在制樣的過程中，其中載網(wǎng)的選擇也是至關(guān)重要。載網(wǎng)通常是一...

透射電鏡是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件上顯示出來的顯微鏡。透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿基于樣品端超薄設(shè)計(jì)或360°旋轉(zhuǎn)設(shè)計(jì)，滿足生命科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域?qū)θS重構(gòu)表征的不同需求。透射電鏡三維重構(gòu)樣品桿通過一系列不同傾斜角獲得樣品的二維平面成像信息，使用軟件處理后可獲得三維立體成像信息。直接使用3mm銅網(wǎng)樣品進(jìn)行觀察，支...

透射電鏡液體光學(xué)原位系統(tǒng)采用MEMS微加工工藝在原位樣品臺(tái)內(nèi)構(gòu)建液氛納米實(shí)驗(yàn)室，通過樣品臺(tái)內(nèi)置的光纖將光作為外場條件搭載其上，通過MEMS芯片和光纖引入的光源對樣品施加光場刺激條件，在進(jìn)行光學(xué)性質(zhì)測量的同時(shí)，結(jié)合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測樣品在液氛環(huán)境中隨光場變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)演化、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、相變、元素價(jià)態(tài)、化學(xué)變化、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在超薄...

透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。透射電鏡力電原位系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征。本公司提供的透射電鏡力電原位系統(tǒng)是通過MEMS芯片在原位樣品臺(tái)內(nèi)構(gòu)建力、電復(fù)合多場自動(dòng)控制及反饋測量系統(tǒng)，結(jié)合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測樣品在真...